Anritsu S820E SITEMASTER 系列的頻率選項涵蓋 1 MHz 至 8、14、20、30 或 40 GHz，是自推出以來開發(fā)的先進的 Site Master?？捎玫氖噶烤W(wǎng)絡分析儀 (VNA) 和矢量電壓表 (VVM) 選項允許用戶隨時輕松擴展 S820E 的多功能性。向 S820E 添加選件非常簡單，只需購買所需選件并安裝 Anritsu 提供的選件激活密鑰即可。無需將儀器送至服務部門，因為在 S820E 出廠前，所有所需的硬件和校準都已內置。 Anritsu S820E 是同類產品中價值高的手持式微波分析儀，提供比當今市場上任何其他同類產品更多的標準測量能力?，F(xiàn)在包括標準視頻檢測探頭 (VIP) 模式（固件版本 V1.17 或更高版本），除了傳統(tǒng)的同軸/波導之外，用戶現(xiàn)在可以根據(jù) IEC 61300-3-35 標準驗證光纖連接器并執(zhí)行通過/失敗測試S820E 已經(jīng)支持測量。檢查光纖連接器末端只需要一個與 Anritsu 兼容的 USB 視頻檢測探頭（單獨出售），例如 G0306A 400x USB VIP。 VIP 結果可以保存為圖像文件、測量文件或直接從儀器本身轉換為 pdf 報告。使用 S820E VIP 模式獲得的測量文件與 Anritsu 的有線光學測試產品*兼容，例如屢獲殊榮的 MT1000A Network Master Pro、MT1100A Network Master Flex 和 MT9000 系列 OTDR 產品。 VNA 模式提供*反向掃描、4 個 S 參數(shù)同時測量功能以及用戶可配置的四顯示。生成標準行業(yè)兼容格式的 S2P 文件（提供 3 種類型的 S2P 文件）。 S2P 文件可以導入到 Anritsu 臺式 VNA（VectorStar™ 和 ShockLine™）中，以便在現(xiàn)場測量和實驗室測量之間進行比較。 具有 A/B 和 B/A 比功能的 VVM 模式使 S820E 可以直接替代舊式矢量電壓表。 VVM 模式還直接支持反射/透射測量，無需外部 CW 源和外部耦合器、電橋或分路器。矢量誤差校正可應用于反射或傳輸測量，為 DUT 提供絕對測量數(shù)據(jù)，并補償可能需要直接連接到 DUT 的任何電纜、適配器或固定裝置。提供多種測量顯示模式，便于與其他常見測量類型進行比較，方便的表格顯示允許同時測量多達 12 個 DUT 和 1 個參考，對于多陣列天線系統(tǒng)調諧非常有用。行業(yè)的動態(tài)范圍提供出色的測量穩(wěn)定性和可重復性，在高系統(tǒng)損耗不可避免的情況下，使其成為關鍵下滑道安裝和驗證的理想選擇。 利用與我們的高級 VectorStar™ VNA 模型和我們新的 ShockLine™ VNA 模型相同的先進采樣器技術。 S820E 在緊湊的手持式封裝中提供臺式微波性能。目前沒有其他手持式微波電纜和天線分析儀/矢量網(wǎng)絡分析儀可以與 S820E 型號的動態(tài)范圍性能相媲美。憑借高達 40 GHz 的 110 dB 動態(tài)范圍，S820E 甚至超過了老一代臺式 VNA 的性能?，F(xiàn)代連接選項（USB、以太網(wǎng)）是標準的以及完整的遠程控制功能。 S820E 取代了以前的 S810D/S820D 微波電纜和天線分析儀，并提供了這些型號的所有功能以及更多功能。 S820E 還包括“經(jīng)典模式”，使以前的 S8X0D 系列用戶能夠以最少的額外工作立即提高工作效率。 內置幫助菜單可輕松訪問幫助，還包括完整的儀器用戶指南。 標準 1 端口測量功能包括： 回波損耗駐波比電纜損耗史密斯圓圖階段故障回波損耗故障點駐波比高精度射頻功率（需要 USB 傳感器）標準 2 端口測量功能包括： 2 端口傳輸測量 2 端口傳輸測量（需要外部傳感器） 2 端口掃描電纜損耗（需要外部傳感器）可選的矢量網(wǎng)絡分析儀功能包括： *反向掃描，S12 和 S22 測量無需反向 DUT 同時測量 2 端口設備的所有 4 個 S 參數(shù)用戶可配置的四顯示器以 1、2、3 或 4 顯示軌跡格式與軌跡疊加的任意組合大量圖表類型可供選擇，包括實阻抗和虛阻抗 IFBW 選擇從 10 Hz 到 100 kHz，1/2/5 格式保存 S2P 文件（3 種格式）、測量文件 (.svna)、屏幕圖像 (.png)、CSV 和 TXT 文件參考平面擴展（兩個端口）功能還允許補償